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参照してください。
透過型電子顕微鏡（JEM-2100F）
- JEM-2100F ウイルス感染。USB取扱注意。サポートPC設置しました。（USBは、本体側PCには挿さないこと）
- TEMはX線関係機器でもあります。「X線関係機器を使用する際の注意」も参照してください。
透過型電子顕微鏡（JEM-1400Plus）
- TEMはX線関係機器でもあります。「X線関係機器を使用する際の注意」も参照してください。
走査電子顕微鏡（JSM-6300/EDAX Genesis）
- 本装置は設置後２５年経過し、２０１８年３月３１日をもって メーカーサポートが終了しました。 今後、故障が発生した時点で共同利用終了となる見込みです。 後継機は昨年導入した「JSM-IT100」になります。（2018/04/02）
- ウィルス感染！USBの取扱注意
- サポートPC設置しました。（USBは、本体PCには挿さないこと。）
- コンデンサーレンズ電流値（８～１３）の範囲内で使用のこと。
走査電子顕微鏡（JSM-IT100）
- 現在、特にお知らせはありません。
電界放出形走査電子顕微鏡（SU8000 TypeⅡ）
- 現在、特にお知らせはありません。
低真空走査電子顕微鏡（SU3500）
- 試料･目的別に最適な観察条件の目安を示すことで、初心者にも高画質像質の
サービスを提供することを目的として観察条件データベースを作成しました。絶縁物・含水試料・含油試料など合計103個の試料について記載しております。参考になれば幸いです。ロゴをクリックすると、別のタブでWebデータベースが開きます。（2015/04/14）
本データベースは平成26年度科学研究補助金（奨励研究、課題番号：26921006）の助成を受け、河西が作成しました。
オスミウムコーター（Neoc-STB)
- ニードルバルブを交換しました。(2018/03/02)
- 試料室電極をお椀型から平板型へ改良するアップグレードを行いました。これにより再現性が向上し、対応試料サイズが拡大しました。現場の取扱説明書及び簡易手順書も更新しました。簡易手順書はマニュアルダウンロードページにも掲載しました。(2016/03/11)
強力X線回折装置（RINT-2500）
- サポートPCを設置しました。 測定･解析等データは新しく設置するサポートPCから 取り出す様にしてください。 本体PCのUSB口や光学ドライブは封印し、 基本的に本体PCへのデータ転送は禁止です。（2018/11/16）
- PDXLソフトをver.2.8.1からver.2.8.4へアップデートしました。変更点はPCデスクトップのリリースノートを参照してください。（2018/10/19）
- 本日、PDXLソフト用にシリコン（NIST 640C Si-powder）のスタンダードデータを取得･登録しました。（2018/04/02）
- PDXLソフトをver.2.7.2からver.2.8.1へアップデートしました。変更点はPCデスクトップのリリースノートを参照してください。新しい取扱説明書もPCデスクトップにあります。 （2018/03/02）
- 回転対陰極(磁性流体シール、水シールを含む)を交換しました。（2018/ 2/27）
- 左ゴニオのシンチレータを交換しました。 （2017/12/11）
- 本日、ICDDデータベースを2007年版から2016年版に更新しました。（2017/ 8/28）
- 本日、本装置PCをWin10版に更新しました。
また、PDXLソフトをver.2.1.3からver.2.7.2へアップデートしました。変更点はPCデスクトップのリリースノートを参照してください。新しい取扱説明書もデスクトップにあります。（2017/03/09） - 右ゴニオの発散スリットボックスを触らないこと！発散スリットボックスは奥側の端1カ所で固定されているため、手前側を少し強めに横方向に押すと動いてしまいます。位置がずれるとＸ線の照射範囲もずれ、アルミ試料板を使用した場合にはアルミのピークがデータに混入してしまいます（試料のピーク強度も減るが、ピーク位置は変わらない）。
先月(11/27)に続き、本日もずれていました。今までは、「発散縦制限スリットを確認する時以外は触らない。触る時も強い力を加えないこと。」としていましたが、右ゴニオの発散縦制限スリットはOPEN(10mm)でしか 使わないため、これを封印して、発散スリットボックスを 触手禁止とします。
ずれているかどうかは、アルミ試料板のみで37～45deg位の範囲を測定した時のピークの有無で解ります。 発見した時は連絡をお願いします。（2012/12/20）
X線回折装置（RINT-2200）
- PDXLソフトをver.2.8.1からver.2.8.4へアップデートしました。変更点はPCデスクトップのリリースノートを参照してください。（2018/10/16）
- 本日、PDXLソフト用にシリコン（NIST 640C Si-powder）のスタンダードデータを取得･登録しました。（2018/04/03）
- PDXLソフトをver.2.7.2からver.2.8.1へアップデートしました。変更点はPCデスクトップのリリースノートを参照してください。新しい取扱説明書もPCデスクトップにあります。（2018/01/18）
- 電源トランス(3kW)故障により、中古品(2kW)に交換しました。それに合わせて電力部も2kW用に交換しましたが、各管球における使用最大出力の制限に変更はありません。（2016/04/15）
四軸型単結晶Ｘ線回折装置(RASA-7R/AFC-7R)
- 現在、特にお知らせはありません。
蛍光Ｘ線分析装置( JSX-3100RⅡ)
- 現在、特にお知らせはありません。
その他
- 主要な機器の他に、「ラウエカメラ」が有ります。
単結晶材料の外形に対する結晶学的方位の判定や多結晶材料のデバイ環による結晶状態の評価などに利用できます。
感度の高いポラロイドフィルムを使用するので短時間で写真が撮れます。仕様は下記のとおりです。- X線発生部
定格出力 1.5kW X線管球 W（単結晶用）、 Mo、Cu、Co、Cr
- ポラロイドラウエカメラ
試料・フィルム間隔 39mm（最短） コリメータ 1.0mmΦ、60.5mm長 撮影方法 透過法・背面反射法 使用フィルム ポラロイド Type57（感度3000、4X5インチ）
但し、解析ソフト等は有りません。写真までです。フィルムは生産終了により入手不能ですが在庫が少しあるので一度河西まで御連絡下さい。（注意：本機器は全体が管理区域に指定されております。使用にあたっては、予め「管理区域」への放射線従事登録申請が必要となります。）
オージェ電子分光装置（JAMP-7800）
- 共同利用を終了し、廃棄しました。(2018/11/29)
X線光電子分光装置（QuanteraSXM）
- SmartSoft,MultiPackをアップデートしました。古い設定ファイル使用しないこと。(2015/01/05)
- 真空悪い状態（3×10-6Pa以下）でX線発生させないこと。分析室より試料速やかに取り出すこと。
- 高さの違うサンプルを同じプラテン上に置かないこと。
- 高さのあるサンプルについては、分析点にズレがあります。
- ウィルス感染！USB取扱注意。サポートPC設置しました。（USBは、メインPCには挿さないこと。）
グロー放電発光分析装置（GD-Profiler 2）
- 現在、特にお知らせはありません。
ナノサーチ顕微鏡（SFT-3500）
- 現在、特にお知らせはありません。
核磁気共鳴装置（AVANCEⅢ 400）
- 現在、特にお知らせはありません。
顕微FT-IRスペクトル装置（FT / IR6600）
- 現在、特にお知らせはありません。
紫外可視近赤外分光光度計（UV-3600 Plus）
- 現在、特にお知らせはありません。
紫外可視分光光度計（V-550）
- 現在、特にお知らせはありません。
分光蛍光光度計（F-7000）
- 現在、特にお知らせはありません。
粒度分布測定装置（SALD-2300）
- 現在、特にお知らせはありません。
集束イオンビーム加工装置（Quanta200 3D）
- ときどき、PCがハングアップもしくはシャットダウンします。注意してください。
- オムニプローブの取り扱い注意。（プローブの先端を使用後きれいに成形しなおすこと。）
- プローブの先端をボディー等に接触させ曲げてしまったなどのトラブルが発生した場合は、必ず報告すること。
- オムニプローブを使用後下げておくこと。
