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共同利用分析機器ガイダンス
| 実施日時 | 実施場所 | 講 師 | 受講対象学生 | 定員 | 内容 | 備考 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 5月9日（水）16：20～17：20 | A1-101 | 中野 准教授 加藤亮 助教 |
学部4年以上の者 | 人数 制限なし |
講義 | 申込 不要 |
共同利用機器取扱講習会
受講希望者は各系の技術創成研究機構委員会委員（下記）へ申し込んで下さい。
申込方法・期限については、委員から連絡されます。
1系・三好孝典准教授 2系・村上義信准教授 3系・中内茂樹教授 4系・高島和則准教授 5系・宮田 讓教授
総合教育院・浜島昭二教授
★講習会の内容に関しては、研究基盤センターへお問い合わせください。 【問い合わせアドレス：lecture@crfc.tut.ac.jp】
★系・総合教育院に属さない方で受講希望がある場合は、研究基盤センターへお問い合わせください。
【問い合わせアドレス：lecture@crfc.tut.ac.jp】
- 【分析支援部門】
講習する機器名称他 実施日時 実施場所 講 師 受講対象学生 定員 内容 事前
申込3次元透過型電子顕微鏡
TEM：Transmission
Electron Microscope 日本電子
JEM-2100Ｆ、3D-TEM研究室単位
で日程調整110室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上で透過電子顕微鏡の使用経験が1年以上の者 各3名 実習 要 8月8日（火）
13：00～15：00センタ−
3階
セミナー室中野 准教授 学部4年以上
の者人数
制限なし講義 不要 透過型電子顕微鏡H-800
TEM：Transmission
Electron Microscope 日立 H-800、
極微小部観察分析装置5月22日（火）
13：00～17：00107室 村本 技術
専門職員学部4年以上の者 6名 実習 要 8月8日（火）
13：00～15：00センタ−
3階
セミナー室中野 准教授 学部4年以上の者 人数
制限なし講義 不要 電界放出形走査電子
顕微鏡（FE-SEM）
Field Emission Scanning
Electron Microscope 日立ハイテクノロジーズ
SU8000 TypeⅡ6月15日（金）
13：00～17：00
6月22日（金）
13：00～17：00122室 河西 技術
専門職員博士前期1年以上で走査型電子顕微鏡の使用経験が1年以上の者 各10名 実習 要 走査型電子顕微鏡
SEM：Scanning
Electron Microscope 日本電子 JSM-63006月1日（金）
13：00～17：00
6月5日（火）
13：00～17：00
6月8日（木）
13：00～17：00114室 村本 技術
専門職員学部4年以上の者 各10名 実習 要 低真空走査電子顕微鏡
ESEM：
Environmental Scanning
Electron Microscope ニコン ESEM-27005月28日（月）
9：00～12：30124室 河西 技術
専門職員学部4年以上の者 10名 実習 要 ナノサーチ顕微鏡
LSM:Laser Scanning
Microscope
SPM:Scanning Probe
Microscope 島津 SFT-3500第1回(※1)LSM講習 6月6日（水）
10：30～12：00224室 加藤亮 助教 学部4年以上の者 12名
（各研究室
2名まで）実習 要 第2回(※1)SPM講習 6月6日（水）
13：00～15：00224室 加藤亮 助教 博士前期1年以上の者で第1回講習の受講者 5名
（各研究室
1名まで）実習 要 集束イオンビーム微細
加工装置（FIB）
FIB：Focused Ion Beam FEI Quanta 3D5月29日（火）
13：00～17：00107室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上の者 6名 実習 要 オージェ電子分光装置
AES：Auger Electron
Spectroscopy 日本電子 JAMP-78006月12日（火）
13：00～17：00107室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上で走査型電子顕微鏡の使用経験が1年以上の者 6名 実習 要 （走査型）
X線光電子分光装置
XPS、ESCA アルバックファイ PHI
Quantera SXM-CI6月14日（木）
13：00～17：00122室 村本 技術
専門職員博士前期1年以上の者 6名 実習 要 強力X線回折装置
X-ray Diffractometer
with Rotating Anode
X-ray Generator 理学 RINT-2500第1回 7月10日（火）
13：00～17：00
第2回 7月11日（水）
13：00～17：00
第3回 7月12日（木）
13：00～17：00
第4回 7月13日（金）
13：00～17：00集合場所
117室河西 技術
専門職員学部4年以上で放射線従事登録者 各14名
（要ガラス
バッジ）実習 要 X線回折装置
XRD：X-ray Diffractometer 理学 RINT-2200（四軸型単結晶X線回折）
原子集合体構造解析装置
（4-axis）single crystal X-ray
diffractometer system 理学電機
RASA-7R/AFC-7R第1回 8月23日（木）
14：00～17：00
第2回 8月24日（金）
14：00～17：00117室 藤澤 助手 学部4年以上で放射線従事登録者 各5名
（要ガラス
バッジ）実習 要 固体核磁気共鳴装置
Solid-State Nuclear
Magnetic Resonance
Spectrometer ブルカー・バイオスピン株式会社
AVANCEⅢ 4005月30日（水）
10：30～12：00
溶液講習121室 加藤亮 助教 博士前期1年以上の者 10名 実習 要 5月30日（水）
13：30～15：00
固体講習121室 加藤亮 助教 博士前期1年以上の者 10名 実習 要 原子吸光分光装置
Atomic Absorption
Spectrometer 島津製作所 AA-6606月20日（水）
14：45～224室 服部敏明
准教授学部4年以上の者 10名 実習 要 (※1) 第1回LSM講習の未受講者は、第2回SPM講習を受講できません。
第1回 LSM講習 ： 光学顕微鏡、レーザー顕微鏡の利用法に関する講習
第2回 SPM講習 ： 走査プローブ顕微鏡の利用法に関する講習。
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- 【工作支援部門】
講習する機器名称他 実施日時 実施場所 講 師 受講対象学生 定員 内容 事前
申込レーザ加工用CAD講習会
三菱メカトロニクス
Cam Magic LA
5月25日（金）
13：00～17：00131室 早川 技術
専門職員学部4年以上の者 10名 実習 要 レーザ加工機講習会
三菱電機
L806T3+3016C
6月1日（金）
13：00～17：00131室 早川 技術
専門職員レーザ加工用CAD講習会を 受講していること 8名 実習 要 ワイヤ放電加工用CAD講習会
三菱メカトロニクス
Cam Magic AD
6月15日（金）
13：00～17：00実験実習工場
精密実験実習室
早川 技術
専門職員学部4年以上の者 10名 実習 要 ワイヤ放電加工機講習会
三菱電機 SX20
6月22日（金）
13：00～17：00実験実習工場
精密実験実習室
早川 技術
専門職員ワイヤ放電加工用CAD講習会を 受講していること 8名 実習 要 旋 盤 （初級編）
瀧澤鐵工所
TAL510X1500 他全6台
6月18日（月）
13：00～17：00
6月19日（火）
13：00～17：00実験実習工場
北館
金田,椿,神谷
技術専門職員学部4年以上の者 各9名 技術講習会 要 旋 盤 （上級編）
瀧澤鐵工所
TAL510X1500 他全6台
7月3日（火）
13：00～17：00
7月4日（水）
13：00～17：00実験実習工場
北館
金田,椿
技術専門職員旋盤初級編を受講済みの者 各9名 技術講習会 要 フライス盤 （初級編）
エンシュウ SEV 他全4台
7月2日（月）
13：00～17：00実験実習工場
北館
椿,徳増
技術専門職員学部4年以上の者 各4名 技術講習会 要
- ・いずれの講習会も教職員は受講可能です。
- ・使用予定のない方の受講はご遠慮ください。
- ・事前に受講資料を複写していただく機器もあります。対象者には別途通知します。
- ・定員の都合上、希望者全員に受講していただけない場合があります。受講決定については、各講習会の1週間前までにメールにて連絡いたします。
- ・平成22年度から修士課程は博士前期課程となりました。
- ・実施場所の部屋番号は、特に注記のない限り、研究基盤センター内の部屋番号を示します。センターマップはこちら
- ・当センターは特別管理区域に指定されておりますので、受講の際には学生証及び身分証明書を携帯して下さい。
