内 容 |
講 師 |
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| TEM/SEM による組織・構造解析の基礎と 応用 | 教育研究基盤センター 教授 中野 裕美 |
| 放射光による X 線分光計測 (XAFS 、 XPS) を用いた電子構造解析の基礎と応用 | 立命館大学
総合科学技術研究機構 SR
センター 研究教員 ( 准教授 ) 中西 康次 氏 |
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2016年08月09日
SEM / TEM / XAFS / XPS ユーザーズセミナー開催報告
平成28年8月8日に、SEM / TEM / XAFS / XPSユーザーズセミナーを開催しました。
マクロ～ミクロまでの組織、構造、局所構造解析の手段として、
電子顕微鏡
（
SEM/TEM
）、
放射光による
X
線分光計測（
XPS/XAFS
）を用いた分析技術について、
本センター教授及び立命館大学の先生をお招きして、解析事例
をご紹介しながらわかりやすく解説していただきました。
学内の教職員・学生及び企業等の技術者・研究者など、合計約60名の受講者がありました。
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